術(shù)語集
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ANSI | 美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(American National Standards Institute)的縮寫。也被稱為美國國家標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會或美國國家標(biāo)準(zhǔn)局。是一家在美國開展工業(yè)規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)化的機(jī)構(gòu)。
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ASA | 美國標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(American Standards Association)的縮寫。美國工業(yè)領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)化組織,1966年因發(fā)展需要解散。現(xiàn)由ANSI接管。
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ASME | 美國機(jī)械工程師協(xié)會(The American Society of Mechanical Engineers)的縮寫。工學(xué)領(lǐng)域的世界級規(guī)模化機(jī)構(gòu),不僅從事學(xué)術(shù)會議舉辦、技術(shù)書籍出版等工作,還負(fù)責(zé)開展技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化(規(guī)格化)活動。
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B | |
標(biāo)稱值 | 測量儀等實(shí)測所得數(shù)據(jù)的平均值。 |
D | |
導(dǎo)出要素 | 從組成要素導(dǎo)出的中心線、中心面、中心點(diǎn)。 |
F | |
復(fù)合輪廓度公差方式 | 對要素與基準(zhǔn)體系之間的輪廓度,分別賦予不同公差值的方法。形體控制框分為多格時(shí),幾何公差的符號依舊會將框格合并成1個(gè),并且只給出2項(xiàng)標(biāo)示。對于同一要素,可以同時(shí)管控位置、姿態(tài)、形狀。 |
復(fù)合位置度公差方式 | 對要素相互之間的位置度,以及要素與基準(zhǔn)體系之間的位置度,分別賦予不同公差值的方法。形體控制框分為多格時(shí),幾何公差的符號依舊會將框格合并成1個(gè),并且只給出1項(xiàng)標(biāo)示。對于同一要素,可以同時(shí)管控位置、姿態(tài)、形狀。 |
G | |
公差補(bǔ)償 | 根據(jù)最大/最小實(shí)體要求計(jì)算得出的對于幾何公差的緩和尺寸。借助該功能,有助于實(shí)現(xiàn)檢測的簡易化,減少過嚴(yán)公差設(shè)定引發(fā)的不良品問題。 |
公差等級 | 公差的數(shù)值為0.01 mm至0.09 mm或0.001 mm至0.009 mm等時(shí),將難以讀取標(biāo)示。公差等級是為了避免這一問題,以簡化公差標(biāo)示為目的的規(guī)格。根據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)尺寸(圖示尺寸)之間的偏差,對公差進(jìn)行分級,并對不同級別賦予大寫或小寫字母的符號。 |
GPS | “產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(Geometrical Product Specification)”的縮寫。為了排除圖紙的不明確性,系統(tǒng)整合測量的不確定度,使產(chǎn)品適用于國際認(rèn)證制度,由ISO TC213技術(shù)委員會負(fù)責(zé)補(bǔ)充修訂現(xiàn)有的國際標(biāo)準(zhǔn),推進(jìn)規(guī)格化的發(fā)展。 |
H | |
锪平臺 | 為了避免螺栓、螺絲等工件的頂端凸出,或是為了確保締結(jié)力而使表面平滑等理由,將孔口進(jìn)一步鉆大挖深的切削加工。
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I | |
ISO | 國際標(biāo)準(zhǔn)化組織(International Organization for Standardization)的縮寫。負(fù)責(zé)制定國際通用標(biāo)準(zhǔn)的非政府組織,由ISO制定的標(biāo)準(zhǔn)被稱為ISO標(biāo)準(zhǔn)。 |
J | |
JIS | 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(Japanese Industrial Standards)的縮寫。由JISC(日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會,根據(jù)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法經(jīng)濟(jì)產(chǎn)業(yè)省下設(shè)的審議會)負(fù)責(zé)制定的標(biāo)準(zhǔn),內(nèi)容包括日本工業(yè)產(chǎn)品的相關(guān)規(guī)格及測量法等。 |
基準(zhǔn)的浮動 | 基準(zhǔn)為尺寸要素時(shí),對基準(zhǔn)適用最大實(shí)體要求,不限制基準(zhǔn)的動作。 |
L | |
零幾何公差 | 最大實(shí)體狀態(tài)下,視作無(零)幾何偏差,在逐漸接近最小實(shí)體狀態(tài)的同時(shí),將相應(yīng)差分賦予幾何公差的方式。 |
理想形狀 | 從幾何上來看沒有偏差的形狀。 |
N | |
內(nèi)部輪廓 | 形成機(jī)械部件內(nèi)面(孔或槽的內(nèi)面)的要素。 |
P | |
平均直徑 | 該標(biāo)示意為,圓形體或圓柱體中2點(diǎn)測得的平均值,必須處于最大容許極限尺寸值與最小容許極限尺寸值之間。標(biāo)注為“AVG”。 |
普通公差 | 對于在功能上沒有特殊要求的尺寸(長度、角度、倒角尺寸),用批量標(biāo)示替代在圖中逐個(gè)標(biāo)示公差的方式。公差等級(基本尺寸公差等級)的符號取決于精度。 |
普通幾何公差 | 對于在功能上沒有特殊要求的幾何公差,用批量標(biāo)示替代在圖中逐個(gè)標(biāo)示的幾何公差方式。公差等級(基本尺寸公差等級)的符號取決于精度。 |
S | |
實(shí)體公差 | 在尺寸公差與幾何公差之間指定特殊關(guān)系的1種方式。通過符號或,在圖紙上進(jìn)行指定。分為“最大實(shí)體要求”與“最小實(shí)體要求”,使用該方式,能夠在實(shí)體狀態(tài)與實(shí)際尺寸存在差異時(shí),增加指定的幾何公差。
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實(shí)效尺寸 | 規(guī)定要素實(shí)效狀態(tài)的尺寸。對外形輪廓而言, 等于“最大容許尺寸+姿態(tài)公差或位置公差” 對內(nèi)部輪廓而言, 等于“最小容許尺寸-姿態(tài)公差或位置公差” |
T | |
T.I.R | Total Indicator Reading的縮寫。跳動測量中最大值與最小值的差。 |
泰勒原則 | 工件的最大實(shí)體尺寸,必須用正確制成該工件最大實(shí)體尺寸的通規(guī)進(jìn)行檢測。相對的,檢測工件的最小實(shí)體尺寸時(shí),則必須使用正確制成該工件最小實(shí)體尺寸,在設(shè)計(jì)上能夠逐一檢測工件各要素的止規(guī)。
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提取要素 | 測量得到的要素。 |
W | |
外形輪廓 | 形成機(jī)械部件外面(圓柱軸及長方體的外面)的要素。 |
X | |
心軸 | 尺寸、幾何特性均為高精度的圓柱軸。
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自準(zhǔn)直儀 | 對角度進(jìn)行非接觸式測量的光學(xué)測量儀。將光源光線轉(zhuǎn)換成平行光,由接物透鏡照射到裝設(shè)在測量物頂面的反射鏡上,以角度秒為精度,測量其與反射光的角度差??蓽y量真直度、直角度、平面度等。 |
組成要素 | 表面或表面上的線。具有實(shí)體的要素。 |
最大實(shí)體實(shí)效狀態(tài)(MMVC:Maximum Material Virtual Condition) | 尺寸公差與幾何公差構(gòu)成的體積最大的狀態(tài)。 |
最佳擬合 | 對比測量產(chǎn)品的測量數(shù)據(jù)與3D CAD數(shù)據(jù),確認(rèn)差分的功能。擬合結(jié)果將顯示為3D圖像,可確認(rèn)各測量點(diǎn)的數(shù)據(jù)與CAD數(shù)據(jù)之間的偏差。 |
最小實(shí)體實(shí)效狀態(tài)(LMVC:Least Material Virtual Condition) | 尺寸公差與幾何公差構(gòu)成的體積最小的狀態(tài)。 |